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磁痕显示的分类和记录

来源: 作者:中国无损检测 人气: 发布时间:2024-04-28
摘要:磁痕显示的分类和记录 5.1 磁痕的分类和处理 5.1.1 磁痕显示分为相关显示、非相关显示和伪显示。 5.1.2 长度与宽度之比大于3的缺陷磁痕,沧州欧谱按条状磁痕处理;长度与宽度之比不大于3的磁痕,按圆形磁痕处理。 5.1.3 长度小于0.5mm的磁痕不计。 5.1.4 两条
磁痕显示的分类和记录
 
  5.1 磁痕的分类和处理
 
  5.1.1 磁痕显示分为相关显示、非相关显示和伪显示。
 
  5.1.2 长度与宽度之比大于3的缺陷磁痕,沧州欧谱按条状磁痕处理;长度与宽度之比不大于3的磁痕,按圆形磁痕处理。
 
  5.1.3 长度小于0.5mm的磁痕不计。
 
  5.1.4 两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线I-N_间距不大于2mm时,按一条磁痕处理,其长度为两条磁痕之和加间距。
 
  5.1.5 缺陷磁痕长轴方向与工件(轴类或管类)轴线或母线的夹角大于或等于30°时,按横向缺陷处理,其他按纵向缺陷处理。
 
  5.2 缺陷磁痕的观察
 
  5.2.1 缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。
 
  5.2.2 非荧光磁粉检测时,缺陷磁痕的评定应在可见光下进行,通常工件被检表面可见光照度应大于或等于10001x;当现场采用便携式设备检测,由于条件所限无法满足时,可见光照度可以适当降低,但不得低于5001x。
 
  荧光磁粉检测时,所用黑光灯在工件表面的辐照度大于或等于1000μW/cm2,黑光波长应在320nm~400nm的范围内,缺陷磁痕显示的评定应在暗室或暗处进行,暗室或暗处可见光照度应不大于201x。检测人员进人暗区,至少经过3min的暗室适应后,才能进行荧光磁粉检测。观察荧光磁粉检测显示时,检测人员不准戴对检测有影响的眼镜。
 
  5.2.3 除能确认磁痕是由于工件材料局部磁性不均或操作不当造成的之外,其他磁痕显示均应作为缺陷处理。当辨认细小磁痕时,应用2~10倍放大镜进行观察。
 
  5.3 缺陷磁痕显示记录
 
  缺陷磁痕的显示记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录,同时应用草图标示。
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