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TOFD+相控阵扫查器

来源： 作者：中国无损检测 人气： 发布时间：2026-03-14
摘要：相控阵、TOFD及常规超声各有其检测局限性，在单独使用这些检测技术时很容易出现漏检，误判或出现由于工件材料限制而无法检测的情况。同时具备相控阵/TOFD/常规脉冲反射BCD三维成像技术，可以轻松完成各种日常的超声检测和分析。 在实际检测应用中，如一台机
相控阵、TOFD及常规超声各有其检测局限性，在单独使用这些检测技术时很容易出现漏检，误判或出现由于工件材料限制而无法检测的情况。同时具备相控阵/TOFD/常规脉冲反射BCD三维成像技术，可以轻松完成各种日常的超声检测和分析。
 
      在实际检测应用中，如一台机器能够同时使用TOFD和相控阵功能，则可通过专门的扫查器连接这两种探头，对检测工件进行联合扫描。消除TOFD的上下表面盲区，提高缺陷定位效率及准确性。
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