注1:在整个范围内测量不确定度不是恒定的,而且靠近每个范围两端会增大。 注2:所给定的范围是近似的,而且主要取决于可接受的测量不确定度。 注3:如果同时测量表层和中间层,由于荧光X射线光束的各种相互作用,即表层会吸收中间层的荧光,那么各覆盖层材料可测厚度范围会发生变化,例如测量在铜上的金和镍时,若金覆盖层厚度超过2.0微米,则无足够的荧光保证镍层高精度测量。 注4:当进行厚度大于0微米(如铜或镍上的金:±0.005微米)覆盖层厚度测量过程中,测量不确定度。这就必须了解测量范围的下线。 |
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注1:在整个范围内测量不确定度不是恒定的,而且靠近每个范围两端会增大。 注2:所给定的范围是近似的,而且主要取决于可接受的测量不确定度。 注3:如果同时测量表层和中间层,由于荧光X射线光束的各种相互作用,即表层会吸收中间层的荧光,那么各覆盖层材料可测厚度范围会发生变化,例如测量在铜上的金和镍时,若金覆盖层厚度超过2.0微米,则无足够的荧光保证镍层高精度测量。 注4:当进行厚度大于0微米(如铜或镍上的金:±0.005微米)覆盖层厚度测量过程中,测量不确定度。这就必须了解测量范围的下线。 |
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