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常用测厚仪有几种检测方法

来源: 作者:中国无损检测 人气: 发布时间:2024-04-20
摘要:测厚仪(thicknessgauge)是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。 测厚仪按照测量方式可分为接触式和非接触式。接触式测厚仪通过仪器与样品表面接触测量,从而得知测量结果
测厚仪(thicknessgauge)是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。
 
测厚仪按照测量方式可分为接触式和非接触式。接触式测厚仪通过仪器与样品表面接触测量,从而得知测量结果。而有些样品的表面容易破坏不宜测量,则衍生出各种非接触式测量方法,例如:激光测厚仪、沧州欧谱超声波测厚仪、涂层测厚仪、X射线测厚仪、薄膜测厚仪等。
 
 
1.激光测厚仪
 
利用激光的反射原理,根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度,是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接,并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。
 
 
2.超声波测厚仪
 
根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过*测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
 
适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度。
 
 
3.涂层测厚仪
 
采用电磁感应法测量涂层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路,随着探头与铁磁性材料间的距离的改变,该磁回路将不同程度的改变,引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以*地测量探头与铁磁性材料间的距离,即涂层厚度。
 
 
4.X射线测厚仪
 
利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,达到要求的轧制厚度。
 
主要应用行业:有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。
 
 
5.薄膜测厚仪
 
使用两个激光传感器安装在被测物(纸张)上下方,将传感器固定在稳定的支架上,确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物的移动传感器*开始对其表面进行采样,分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离,测量值通过串口传输到计算机,再通过我们在计算机上的测厚软件进行处理,得到目标的厚度值。
 
适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度*测量。可以实现对纸张的非接触式测量,避免对纸张造成形变引起误差。测量精度达到微米级,是目前精度*高的测厚仪,并且可以在线测量。实现生产自动化的闭环控制。
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