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位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂/镀层厚度。
由于工作原理，因此涂层测厚仪在使用时，对环境也有一定要求，涂层测厚仪在检测时，易受测量基体磁化、厚度，测量物件的曲率等多做因素影响，如何解决这类问题，以下我们为大家做个简单的说明：
影响测量的若干因素：
1、基体金属磁化
磁性法测量受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的）。为了避免热处理、冷加工等因素的影响，应使用与镀件金属具有相同性质的铁基片上对仪器进行校对。
2、基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度，大于这个厚度测量就不受基体厚度的影响。
3、边缘效应
本仪器对试片表面形状的陡变敏感，因此在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
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