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无损检测射线检测技术资格人员考题汇编判断题

来源: 作者:ndt 人气: 发布时间:2024-05-28
摘要:1.当原子核内的中子数改变时,它就会变成另一种元素。( ) 2.原子核内的质子和中子的质量基本相等( ) 3.原子核内的质子和中子的质量是不同的( ) 4.电子与质子的电荷基本相等,符号相反( ) 5.电子与质子的电荷基本相等,符号相同( ) 6.原子核的自发
1.当原子核内的中子数改变时,它就会变成另一种元素。( )
2.原子核内的质子和中子的质量基本相等( )
3.原子核内的质子和中子的质量是不同的( )
4.电子与质子的电荷基本相等,符号相反( )
5.电子与质子的电荷基本相等,符号相同( )
6.原子核的自发转换并随之引起本身理化性质改变的现象称为放射性( )
7.放射性不受外界任何物理、化学作用的影响( )
8.原子序数是标志元素在元素周期表中次序的序号,亦即是该元素原子核中的质子数( )
9.原子序数是标志元素在元素周期表中次序的序号,亦即是该元素原子核外的电子数( )
10.原子序数是标志元素在元素周期表中次序的序号,电火花检测仪亦即是该元素原子核中的中子数( )
11.原子序数是标志元素在元素周期表中次序的序号,亦即是该元素原子核中的质子数与中子数之和( )
12.原子序数是标志元素在元素周期表中次序的序号,亦即是该元素原子的质量( )
13.原子的质量数就是原子核中质子与中子数的总和,通常表示在元素的左上角( )
14.原子的质量数就是原子核中质子与中子数的总和,通常表示在元素的左下角( )
15.原子的质量数就是原子的重量( )
16.同位素就是原子序数相同而质量数不同的元素( )
17.同位素就是原子序数相同而中子数不同的元素( )
18.同位素的原子核中有相同的质子数而中子数不同( )
19.同位素的核外电子数相同( )
20.同位素的化学性质基本相同( )
21.半衰期就是某一元素的原子核经衰变至其原有原子核总数一半所需的时间( )
22.放射性同位素的放射性活度是指其在单位时间内的原子衰变数( )
23.放射性同位素的放射性比活度是指1克放射性元素的放射性活度( )
24.使所透过的射线强度减半所需的某物质厚度称为该物质对该射线的半值厚度( )
25.单位重量的放射性同位素在在单位时间内的原子衰变数称为该放射性元素的放射性比活度( )
26.克镭当量是一种γ放射性单位( )
27.对不同种类的放射性同位素,高活度的同位素总是比低活度的同位素具有更高的辐射水平。( )
28.放射性同位素的原子核数目减少到原来一半所需要的时间称作半衰期。( )
29.在某种材料中,入射射线强度减少到原来一半所需要经过的距离称作该射线对该材料的半值层。( )
30.放射性同位素的能量减少到原来一半所需要的时间称作半衰期。( )
31.在某种材料中,放射性同位素的能量减少到原来一半所需要经过的距离称作对该材料的半值层。( )
32.光子是以光速度传播的微小物质粒子。( )
33.X射线和γ射线都是电磁辐射,而中子射线不是电磁辐射。( )
34.硬X射线比软Χ射线传播速度快,所以硬Χ射线具有更高的能量。( )
35.X射线与可见光主要的区别仅仅是振动频率不同。( )
36.连续X射线的能量与管电压有关,与管电流无关。( )
37.连续X射线的能量与管电流有关,与管电压无关。( )
38.标识X射线的能量与管电压,管电流均无关,仅取决于靶材料。( )
39.X射线管中电子的速度越小,则所发出的射线能量也就越小。( )
40.与60Co相比,137Cs发出的γ射线能量较低,半衰期较短。( )
41.光电效应中光子被完全吸收,而康普顿效应中光子未被完全吸收。( )
42.随着入射光子能量的增大,光电吸收系数迅速减少,康普顿衰减系数逐渐增大。( )
43.当射线能量大于1.02MeV至2MeV时,与物质相互作用的主要形式是电子对效应。( )
44.连续X射线穿透物质后,强度减弱,线质不变。( )
45.当射线穿过三个半价层后,其强度仅剩下最初的1/8。( )
46.连续X射线的有效能量是指穿透物质后,未被物质吸收的能量。所以穿透厚度越大,有效能量越小。( )
47.波长相同的Χ射线和γ射线具有相同的性质。( )
48.人体对射线最敏感的是白血球。( )
49.X射线比γ射线更容易吸收,所以Χ射线对人体有更大的危害性。( )
50.照射量单位“库仑/千克”适用于任何射线( )
51.当X或γ射线源移去以后工件不再受辐射作用,工件本身也就没有辐射。( )
52.被照体离焦点越近,Ug值越大( )
53.对于相同物体,易于透过的X射线其线质硬,硬X射线比软X射线的波长短,衰减系数小,半价层厚( )
54.X射线穿透相同厚度的物体时,衰减系数μ愈大,穿透率I/I0愈小,X射线的波长愈长μ愈大,穿透物质的原子序数愈大μ愈大,穿透物质的密度愈高μ愈大( )
55.对于相同物体,易于透过的X射线其线质硬,硬X射线比软X射线的波长短,衰减系数小,半值层厚( )
56.管电流一定,提高管电压时,发生的连续X射线的线质不变,这时连续X射线强度同管电压成正比( )
57.管电流一定,提高管电压时,发生的连续X射线的线质变软,这时连续X射线强度同管电压成正比( )
58.管电压一定,管电流加大时,发生的连续X射线的线质变软,这时连续X射线的强度同管电流的平方大致成正比( )
59.管电压一定,管电流加大时,发生的连续X射线的线质变硬,这时连续X射线的强度同管电流的平方大致成正比( )
60.将靶极金属改为原子序数较大的元素,而管电压和管电流都一定时,发生的X射线的线质不变,在这里连续X射线的强度同原子序数成正比( )
61.硬X射线比软X射线传播的速度慢,但硬X射线的能量高( )
62.硬X射线与软X射线传播的速度相同,但硬X射线的能量比软X射线高( )
63.一种同位素(例如60Co),它辐射出的射线能量是随时间推移而变的( )
64.在光电效应中,光子并没有被完全吸收,而在康普顿效应中则是光子完全被吸收( )
65.年轻人和老年人相比更容易受到射线的危害,所以未满18岁者不得参与放射工作( )
66.被照体离焦点越远,Ug值越大( )
67.Χ射线管的管电压是指阴极和阳极间的电压有效值( )
68.新的或长期不用的Χ射线机,使用前要进行“训练”,其目的是提高射线管的真空度。( )
69.Χ射线管在使用过程中冷却不良会影响管电压的稳定性( )
70.在实际应用范围内,射线线质对胶片特性曲线的形状基本上无影响。( )
71.在常用的100~400kVΧ射线范围内,铅箔增感屏的增感系数随其厚度增大而增大( )
72.铅箔增感屏比荧光增感屏增感作用大( )
73.金属陶瓷Χ射线管有抗震性强,管电流和焦点稳定性好,体积小的优点,而且真空度优于玻璃Χ射线管。( )
74.在实际应用范围内,射线线质对胶片特性曲线的形状有很大影响( )
75.胶片曝光的部分越多,耗费的显影液也越多( )
76.X、γ射线是电磁波,因为它的波长短,因而不可见( )
77.X和γ射线虽然产生机理不同,但它们的传播速度相同( )
78.放射性同位素γ射线的能量经过几个半衰期后其能量也不会改变( )
79.当X射线通过三个半值层后,其能量仅剩下最初的八分之一( )
80.当X射线通过三个半值层后,其能量仅剩下最初的四分之一( )
81.X射线束的强度仅由打到钨靶上的电子数决定( )
82.X射线的发生电源是直流电,因而产生的是连续谱( )
83.射线穿过试件时,其强度的减弱程度与试件的厚度和材质相关( )
84.钴60比铱192具有较长的半衰期和较高的能量( )
85.X射线管中电子的数量越大,则发出的射线能量就越高( )
86.放射性同位素的衰减与衰变不是一回事( )
87.因为发生光电效应后光子即消失了,所以光电效应也叫光电吸收( )
88.当光子经过康普顿效应后,通常不会产生二次射线( )
89.当X射线通过三个半值层后,其强度仅为初始值的六分之一( )
90.高速运动的电子同靶原子核的库仑场作用,电火花检测仪电子失去的部分能量以光子的形式辐射出来,这种辐射称为韧致辐射,韧致辐射产生标识X射线( )
91.高速运动的电子同靶原子的轨道电子碰撞时,有可能将原子内层的一个电子击到未被电子填满的外层轨道上,其外层的电子向内层跃迁,以光子的形式辐射出多余的能量,这就产生了连续X射线( )
92.用于无损检测的X和γ射线,它们之间的主要区别在于:X射线是韧致辐射的产物,而γ射线是放射性同位素原子核衰变的产物;但X射线和γ射线都是连续谱( )
93.康普顿散射系数虽然与入射光子的能量无关,但入射光子的能量增大时,散射光子的方向越偏离入射光子的初始方向,对底片质量影响就越大( )
94.γ射线源经过两个半衰期后,它的射线能量不变( )
95.打到靶上的电子数是决定X射线强度的唯一因素( )
96.管电压越高,X光管中电子的速度就越大,辐射出的射线强度就越大( )
97.放射性同位素的衰变与射线的衰减不是一回事( )
98.半衰期是指射线能量衰减一半所需要的时间( )
99.康普顿作用过程的特征是光子与电子碰撞时发生全部的能量转换( )
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100.将X光管的阳极靶材料由钼换成钨,其他条件不变,但产生的连续X射线的最短波长会发生改变( )
101.将X光管的阳极靶材料由钼换成钨,其他条件不变,但产生的连续X射线的总强度会改变( )
102.射线会受电磁场的影响( )
103.α射线带负电,β射线带正电,γ射线不带电( )
104.X射线的强度由阴极发射的电子数确定( )
105.X射线的能量由撞击阳极靶的电子数确定( )
106.采用较高的管电压透照工件时,也会获得较高的固有不清晰度( )
107.降低管电压,可以降低胶片的固有不清晰度( )
108.透照某一工件时,减少曝光量可以提高主因对比度( )
109.厚度突变的缺陷要比厚度逐渐变化的缺陷在底片上产生的影像清晰度好( )
110.一台X光机出厂时带有的曝光曲线可以一直用到该X光机报废为止( )
111.同一型号的X光机可以使用同一曝光曲线( )
112.由于X射线和γ射线的产生机理不同,因此波长相同的X射线和γ射线具有不同的物理性质( )
113.当γ射线通过四个半值层后,其能量为初始值的1/16( )
114.X射线的能量是由X射线管中的管电流值决定的( )
115.X射线管的管电流就是灯丝电流( )
116.中子流产生的生物效应比γ射线小( )
117.X射线管的标称管电压是管电压的有效值( )
118.工业射线检测最常用的γ射线源是合成辐射源( )
119.X射线管中电子的动能在靶上大部分转换成X射线能,少部分转换成热能( )
120.当管电压一定,管电流增大时,产生的连续X射线的线质不变、强度增加、波长不变( )
121.当管电压一定,管电流增大时,产生的连续X射线的线质不变、强度降低、波长变长( )
122.连续X射线的强度与X射线管灯丝电流的大小成正比( )
123.当管电流一定,管电压增大时,产生的连续X射线的线质变软、穿透能力增加、波长变长( )
124.连续X射线的强度与靶材的原子序数成正比( )
125.光量子能量是其辐射频率或波长的函数,其数学表达式为:E=h/v=hλ/c(式中:E-能量(eV);h-普朗克常数;λ-波长(cm);c-光速(3x1010cm/s);v-频率(Hz))( )
126.使穿透射线的强度衰减为入射线强度一半时的吸收体厚度称为半值层T1/2,其数学表达式为:T1/2=0.693/d(式中:d为材料厚度)( )
127.单色X射线束就是多种波长的X射线束( )
128.单色X射线束是异种X射线束( )
129.若材质相同、放射强度相同而放射性比活度不同的两个不同的γ射线源,其体积相同( )
130.钴60放射源的剂量率在1米距离处、每居里、每小时的伦琴数为1mR( )
131.钴60放射源的剂量率在1米距离处、每居里、每小时的伦琴数为1µR( )
132.γ射线源的能量单位用居里(Ci)表示( )
133.X射线管有效焦点的大小直接影响管子的功率比( )
134.表示辐射源的浓缩程度的物理量称为放射性比活度,其表示单位为每小时多少伦琴( )
135.表示辐射源的浓缩程度的物理量称为放射性比活度,其表示单位为每克多少居里( )
136.某一放射性物质,其原子蜕变数在每秒为3.7x1010时,则其放射性强度为1MeV( )
137.某一放射性物质,其原子蜕变数在每秒为3.7x1010时,则其放射性强度为1Ci( )
138.射线在材料中的衰减与射线源的距离平方成反比( )
139.射线在材料中的衰减与材料的厚度成正比( )
140.由于荧光物质具有直接吸收X射线而发出可见光的特点,从而达到增感的目的,这称之为光电效应( )
141.由于荧光物质具有直接吸收X射线而发出可见光的特点,从而达到增感的目的,这称之为趋光效应( )
142.投射到胶片单位面积上的射线辐照量是随时间按指数变化的与强度成反比的量( )
143.投射到胶片单位面积上的射线辐照量是射线辐照强度和时间的乘积( )
144.由于射线源的尺寸、射线源到被检件的距离、被检件到胶片距离等原因,在底片上显示缺陷的边缘轮廓可能发生缺乏完整的清晰度,这个由于几何原因引起的不清晰度称为几何模糊度( )
145.由于射线源的尺寸、射线源到被检件的距离、被检件到胶片距离等原因,在底片上显示缺陷的边缘轮廓可能发生缺乏完整的清晰度,这个由于几何原因引起的不清晰度称为图像投影模糊( )
146.把钴59放入核反应堆中,它捕获了一个电子后变成钴60( )
147.把钴59放入核反应堆中,它捕获了一个质子后变成钴60( )
148.把钴59放入核反应堆中,它捕获了一个离子后变成钴60( )
149.把钴59放入核反应堆中,它捕获了一个中子后变成钴60( )
150.为了提高曝光的经济效果,采用快速胶片代替慢速胶片,其后果是降低了图像分辨能力( )
151.射源尺寸、试件厚度和射源到试件的距离确定后,也就确定了射线底片的黑度( )
152.射源尺寸、试件厚度和射源到试件的距离确定后,也就确定了胶片的实际尺寸( )
153.射源尺寸、试件厚度和射源到试件的距离确定后,也就确定了底片上的不清晰度( )
154.射源尺寸、试件厚度和射源到试件的距离确定后,也就确定了射线底片上的对比度( )
155.10Ci的钴60源衰减到2.5Ci,大约需要10.6年( )
156.10Ci的钴60源衰减到2.5Ci,大约需要21.2年( )
157.计算连续X射线谱的最短波长,一般用的计算公式是:λ0=V/12.4 式中:λ0-最短波长( );V-KV( )
158.计算连续X射线谱的最短波长,一般用的计算公式是:λ0=V/1240 式中:λ0-最短波长( );V-KV( )
159.计算连续X射线谱的最短波长,一般用的计算公式是:λ0=12.4/V 式中:λ0-最短波长( );V-KV( )
160.计算连续X射线谱的最短波长,一般用的计算公式是:λ0=12400/V 式中:λ0-最短波长( );V-KV( )
161.γ射线安全距离的计算公式是:R=(mt/60)1/2 式中:R-离射源的距离(米);t-照射时间(小时);m-射源强度(毫克镭当量)( )
162.γ射线安全距离的计算公式是:R=(60m/t)1/2 式中:R-离射源的距离(米);t-照射时间(小时);m-射源强度(毫克镭当量)( )
163.γ射线安全距离的计算公式是:R=(60t/m)1/2 式中:R-离射源的距离(米);t-照射时间(小时);m-射源强度(毫克镭当量)( )
164.γ射线安全距离的计算公式是:R=(60/mt)1/2 式中:R-离射源的距离(米);t-照射时间(小时);m-射源强度(毫克镭当量)( )
165.几何不清晰度的数学表达式为:Ug=f1b/d 式中:Ug-几何不清晰度;f1-物体表面到射线源的距离;b-物体表面到胶片的距离;d-焦点大小( )
166.几何不清晰度的数学表达式为:Ug=f1d/b 式中:Ug-几何不清晰度;f1-物体表面到射线源的距离;b-物体表面到胶片的距离;d-焦点大小( )
167.几何不清晰度的数学表达式为:Ug=db/f1 式中:Ug-几何不清晰度;f1-物体表面到射线源的距离;b-物体表面到胶片的距离;d-焦点大小( )
168.几何不清晰度的数学表达式为:Ug=f1/db 式中:Ug-几何不清晰度;f1-物体表面到射线源的距离;b-物体表面到胶片的距离;d-焦点大小( )
169.1Ci=3.7x10-10Bq( )
170.1居里=3.7x10-10贝可( )
171.微波辐射、红外辐射属于非电离辐射( )
172.微波辐射、红外辐射属于电离辐射( )
173.X射线属于非电离辐射( )
174.X射线属于间接电离辐射( )
175.γ射线属于间接电离辐射( )
176.γ射线属于非电离辐射( )
177.中子射线属于间接电离辐射( )
178.中子射线属于非电离辐射( )
179.β射线属于直接电离辐射( )
180.β射线属于间接电离辐射( )
181.α射线属于直接电离辐射( )
182.α射线属于间接电离辐射( )
183.描述放射性衰变规律的数学表达式为:N=N0e-λt,式中N为经过时间t后尚未衰变的原子数目,N0为t=o时的原子数目,λ为衰变常数( )
184.描述放射性衰变规律的数学表达式为:N=N0eλt,式中N为经过时间t后尚未衰变的原子数目,N0为t=o时的原子数目,λ为衰变常数( )
185.描述放射性衰变规律的数学表达式为:N=N0e-2λt,式中N为经过时间t后尚未衰变的原子数目,N0为t=o时的原子数目,λ为衰变常数( )
186.描述放射性衰变规律的数学表达式为:N=N0e2λt,式中N为经过时间t后尚未衰变的原子数目,N0为t=o时的原子数目,λ为衰变常数( )
187.X、γ射线都属于电磁波,因而具有波动性和粒子性( )
188.任何γ放射性物质,在距离其1厘米处的照射率为8.4R/h时,其放射性强度即相当于1mg镭当量( )
189.对于β射线,其剂量当量D中的线质系数Q值为1( )
190.对于γ射线,其剂量当量D中的线质系数Q值为1( )
191.对于X射线,其剂量当量D中的线质系数Q值为1( )
192.对于α射线,其剂量当量D中的线质系数Q值为10( )
193.对于快中子射线,其剂量当量D中的线质系数Q值为10( )
194.对于β射线,其剂量当量D中的线质系数Q值为10( )
195.对于γ射线,其剂量当量D中的线质系数Q值为10( )
196.对于X射线,其剂量当量D中的线质系数Q值为10( )
197.对于α射线,其剂量当量D中的线质系数Q值为1( )
198.对于快中子射线,其剂量当量D中的线质系数Q值为1( )
199.放射性物质每秒发生3.7x1010次原子衰变时的放射性活度就是1居里( )
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200.放射性物质每秒发生3.7x1010次原子衰变时的放射性比活度就是1居里( )
201.1居里(Ci)相当于1克镭每秒的原子衰变数( )
202.1贝可(Bq)是指每秒钟有原子衰变一次的放射性活度( )
203.制造低压X射线管窗口的材料一般是铝( )
204.制造低压X射线管窗口的材料一般是铜( )
205.X射线管阳极罩的作用是吸收一次电子( )
206.在相同的管电压和管电流情况下,焦点尺寸越大,其焦点温度越高( )
207.显影液呈碱性,定影液呈酸性( )
208.显影液长期暴露在空气中时容易氧化而导致显影液浓度降低( )
209.与射线照相法相比,荧光屏观察法的优点是检测速度快,可即时判别,但灵敏度较低,难以将缺陷永久记录保存( )
210.在制作胶片特性曲线时,显影时间延长,无损检测资源网会使胶片特性曲线形状变陡,且在坐标上的位置左移( )
211.胶片成象的颗粒性会随着射线能量的提高而变好( )
212.铅增感屏除有增感作用外,还有减少散射线的作用( )
213.对Χ射线,增感系数随射线能量的增高而降低,对γ射线来说也是这样,例如,60Co的增感系数比192Ir小( )
214.通常认为黑度是决定射线照相灵敏度的最主要因素( )
215.射线照相主因对比度与入射线的强度能谱有关,与能谱无关( )
216.用增大焦距的方法可减小射线照相固有不清晰度( )
217.利用阴极侧射线照相所得到的底片几何不清晰度比阳极侧小( )
218.像质计灵敏度1.8%,就意味着尺寸大于透照厚度1.8%的缺陷均可被检出( )
219.射线透照方向的选择,应尽可能使射线与缺陷垂直( )
220.如怀疑背散射线影响清晰度,可在胶片背后放一铅字来验证背散射线的存在( )
221.对某一曝光曲线的使用,应按照与曝光曲线相同的条件实施,包括使用同一类型的胶片和相同的Χ射线机( )
222.增大透照厚度宽容度最常用的办法是适当降低射线能量( )
223.射线透过有焊冠的焊缝后到达胶片上的散射比,大于透过厚度与焊缝相同的平板后到达胶片上的散射比( )
224.如果胶片的γ值小,底片上缺陷图像的对比度就低( )
225.散射线对穿透射线的比率大时,底片上缺陷图像的对比度较差( )
226.像质计灵敏度与缺陷探测灵敏度不是一回事( )
227.像质计灵敏度等于缺陷探测灵敏度( )
228.用像质指数表示的灵敏度称为像质计的相对灵敏度( )
229.底片上缺陷的黑度大小要作为合格与否的依据( )
230.选用高的管电压可以提高底片对比度,从而提高射线检验灵敏度( )
231.选用焦距越大越好( )
232.较低能量(波长较长)的射线可在射线底片上得到较高的工件对比度( )
233.使用γ曝光曲线时,首先应知道在给定时期射线源的活度( )
234.如果已知等效系数,用X射线曝光曲线来代替γ射线曝光曲线,也能够求出曝光参数( )
235.在底片上观察透度计金属丝时,应先从细丝端开始向粗丝方向观察( )
236.在焊缝上摆放线条型像质计时,细线端应接近射线透照场边缘方向( )
237.携带式X光机通常采用自整流式的半波整流,因而产生X射线的利用率比较高( )
238.Χ射线机操作时高压升不上和高压跳闸是一回事( )
239.X光管阳极靶材料用钨主要是因为其熔点低( )
240.焊缝的焊冠越高,缺陷的检出就越容易( )
241.在允许的能量范围内,为提高底片对比度,应尽可能选用能量较高的射线( )
242.如果焊缝的焊冠较高或者厚度差较大,为使焊缝及其热影响区的黑度均在规定的范围内,也可适当提高射线能量( )
243.壁厚为16毫米的压力容器采用钴60进行射线检验是适合的( )
244.胶片的粒度是影响小缺陷可见性的重要因素( )
245.荧光增感屏常常用于锅炉压力容器焊缝的射线检验( )
246.当射源侧无法放置像质计时,也可将像质计放置在胶片侧来进行射线照相,其效果是一样的( )
247.铅增感屏上的深度划伤在射线底片上呈白色条痕( )
248.荧光增感屏上的深度划伤在射线底片上呈黑色条痕( )
249.识别界限对比度的值越小,发现小缺陷的能力越差( )
250.为了获得高衬度和高清晰度的射线图像,在选择X射线机时,焦点的有效面积应尽可能呈圆形( )
251.为了获得高衬度和高清晰度的射线图像,在选择X射线机时,焦点的有效面积应尽可能呈方形( )
252.当设计低压X射线管时,为了考虑到滤波、效率、散热等因素,X射线管的窗口一般采用铍制成( )
253.采用中子照相法时,其曝光方法是利用铅箔+X射线胶片曝光( )
254.一般采用钴60照射钢材时,适用的检查厚度范围在50毫米以内或其当量厚度( )
255.钴60的半衰期为5.3年,如该放射源已存放三年,则透照时的曝光时间应增加约57%( )
256.铱192的半衰期为75天,若目前检验工件的最佳曝光时间为20分钟,则经过150天后,在相同的摄影条件下要达到同样的黑度,曝光时间需要80分钟( )
257.假定管电压和曝光时间一定,在焦距500毫米和管电流5毫安的情况下可得到曝光适宜的底片,若把焦距增加到1000毫米,则应采用20毫安的管电流才能得到相同的曝光量( )
258.已知铱192源的放射性强度为10居里,在焦距400毫米时可得到正确的曝光量,若其他条件不变,把焦距增加到800毫米,则要求更换放射性强度为40居里的新源( )
259.对于管电压和管电流都不变的某一曝光量,当焦距从1200毫米减少到800毫米时,其曝光时间将从原来的10分钟缩短到2.2分钟( )
260.已知铱192源在距离1米时的曝光时间为60分钟,如果把曝光时间缩短为15分钟,则需要将距离缩短到0.1米( )
261.假设正确的曝光量为20毫安4分钟,如果管电流改为10毫安,则曝光时间就应该是8分钟( )
262.假设正确的曝光量为20毫安4分钟,如果管电流改为10毫安,则曝光时间就应该是6分钟( )
263.在胶片特性曲线上连接给定两点密度的直线的斜率称为密度差( )
264.根据胶片特性曲线上的斜率可以判别胶片的衬度( )
265.通过尽量延长显影时间,可以起到降低底片衬度的作用( )
266.利用机械测量法可以测定X射线管的焦点( )
267.荧光增感屏比铅箔增感屏的增感作用大( )
268.只要不超出几何不清晰度允许值,应使焦距尽可能长( )
269.在X射线管窗口处加装滤光板可以滤掉波长短的X射线束,提供软的辐射线( )
270.如果提高管电流,而管电压不变,射线束的穿透力有变化( )
271.铅的密度是11.4,钢的密度是7.8,铅的密度约是钢的1.5倍,用220KV的X射线进行照相时,2.5mm厚的铅吸收相当于30mm厚钢的吸收,因此铅的吸收是钢的16倍( )
272.关于底片清晰度,它与物体至胶片的距离成反比,与射线源至物体的距离成正比( )
273.粒度大的X射线胶片其感光速度比粒度小的胶片慢( )
274.强度一定的两种同位素源,若其放射性比活度值不同,则对放射性比活度值较高的源来说,其能量比放射性比活度值低的源大( )
275.表达式:(毫安x时间)/距离平方,称之为曝光因子(曝光系数)( )
276.在X射线管和胶片距离一半处放置一块用高密度材料制成并钻有小孔的板,这是用来测定焦点的大致尺寸( )
277.在试样周围放置铅板的目的是减少试样非曝光区域的散射线影响( )
278.X射线照相时使用的电压值越高,其衬度越低( )
279.胶片的增感因子在40-400KV之间的变化情况是随着电压的降低,增感因子越来越小( )
280.胶片的增感因子在40-400KV之间的变化情况是相同的( )
281.根据黑度D的定义,其数学表达式为:D=lg(L0/L) 无损检测资源网式中:L0-透过底片前的光强度;L-透过底片后的光强度( )
282.在胶片背面放一个“B”铅字,曝光后冲洗出来的底片上出现该铅字的影像,说明对背散射的防护不足( )
283.工件内部如有一面积型缺陷,当该缺陷面与射线投照方向成60°夹角时,在底片上的影像最清晰( )
284.把经显影后的胶片放入定影液中,胶片从原色变到略有透明的时间称为通透时间( )
285.220KV的X射线对钢和铜进行射线照相,两者的厚度当量系数为1:1.4,若以12mm的铜板进行射线照相时的曝光条件对钢进行射线照相,则该钢板的厚度应为16.8mm( )
286.220KV的X射线对钢和铜进行射线照相,两者的厚度当量系数为1:1.4,若以12mm的铜板进行射线照相时的曝光条件对钢进行射线照相,则该钢板的厚度应为34mm( )
287.定影液使用一段时间后,由于定影液成分被存放容器所沉淀,导致定影效果下降( )
288.定影液使用一段时间后,由于定影液成分被底片吸收,导致定影效果下降( )
289.在制作胶片特性曲线时,如果增加显影时间,对胶片特性曲线无多大影响( )
290.在制作胶片特性曲线时,如果增加显影时间,胶片特性曲线的形状不变,但向左移动( )
291.采用高KV值X射线照相法的特点是能获得清晰度较好的底片( )
292.采用高KV值X射线照相法的特点是能扩大被检测物的照射范围( )
293.当采用低KV值X射线照相法时,几乎所有的曝光均需要使用铅箔增感屏( )
294.当采用干板X射线照相法时,几乎所有的曝光均需要使用铅箔增感屏( )
295.一般用于荧光屏观察法的观察窗口是用铅玻璃制成的( )
296.一般用于荧光屏观察法的观察窗口是用有机玻璃制成的( )
297.观察底片时要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上,因为它很可能是因为工件底部未加工的原因造成的( )
298.观察底片时,要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上,因为它很可能是因为背散射的原因造成的( )
299.由于X射线在粗晶材料中可能发生衍射效应,因此散射的特殊表现形式是底片上发生严重灰雾( )
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300.由于X射线在粗晶材料中可能发生衍射效应,因此散射的特殊表现形式是底片的分辨力差( )
301.拍摄具有厚薄差异的试件时,为了同时得到不同厚薄处具有相同黑度的底片,一般可采用补偿泥或垫片摄影法( )
302.用X射线进行照相时,如果要增加射线强度,应降低管电压( )
303.用X射线进行照相时,如果要增加射线强度,应降低管电流( )
304.用X射线进行照相时,如果要增加射线强度,应增加管电流( )
305.用X射线进行照相时,如果要增加射线强度,应加大焦距( )
306.当X射线、γ射线、可见光线或电子入射到胶片乳剂上时,在胶片乳胶的银层上发生一种变化,称之为潜像( )
307.如果放射源的尺寸较大,为了获得质量较高的底片,可以考虑减少曝光时间( )
308.射线照相时,底片边缘未经直接曝光而出现黑度较高的区域,这是由于胶片质量引起的( )
309.射线照相时,底片边缘未经直接曝光而出现黑度较高的区域,这是由于侧面散射线引起的( )
310.显影剂的溶液属于碱性溶液( )
311.显影剂的溶液属于酸性溶液( )
312.显影剂的溶液属于中性溶液( )
313.定影液属于碱性溶液( )
314.定影液属于酸性溶液( )
315.定影液属于中性溶液( )
316.装在暗盒内而未经曝光的胶片边缘呈有淡黑色的原因是暗盒边缘处漏光( )
317.装在暗盒内而未经曝光的胶片边缘呈有淡黑色的原因是受到散射线照射( )
318.底片上产生树枝状影像的原因是显影液温度过高( )
319.底片上产生树枝状影像的原因是胶片的固有缺陷( )
320.使用透度计的目的是要测量缺陷的位置和大小( )
321.使用透度计的目的是要确定曝光条件( )
322.线状透度计和孔型透度计相比较,线状透度计容易看得清( )
323.线状透度计和孔型透度计相比较,两者都一样容易看得清( )
324.工业射线检测使用的胶片与一般胶片之间最大的差别是局部涂乳剂( )
325.工业射线检测使用的胶片与一般胶片之间最大的差别是不涂乳剂( )
326.胶片经曝光后产生的潜影要经过显影后才能够被肉眼观察到( )
327.胶片经曝光后产生的潜影在经过显影后也不能够被肉眼观察到( )
328.确定胶片密度和胶片速度的方法是通过试验做绝对测量法确定( )
329.胶片密度和胶片速度是无法比较与测定的( )
330.未经射线曝光的胶片经暗室处理后,发现底片上存在模糊的淡黑色,这称之为胶片的散射灰雾度( )
331.钢板厚度15毫米,双面焊冠之和为5毫米的焊接件,在底片上能发现最小直径为0.4毫米的钢丝透度计,此时所达到的灵敏度即是2%( )
332.在进行焊缝射线照相时,线型透度计一般是放置在胶片盒上面( )
333.在进行焊缝射线照相时,线型透度计一般可以任意放置( )
334.在X射线照相时,在胶片暗盒的背面安置一块铅板,这块铅板应与胶片尽量贴紧,其目的是为了防止胶片受来自背面散射线的影响( )
335.在X射线照相时,在胶片暗盒的背面安置一块铅板,这块铅板应与胶片尽量贴紧,其目的是为了支撑零件不使胶片弯曲( )
336.对显影液添加补充液时,一般在添加的补充液量达到原来显影液量的10倍时,该显影液应该报废,而不应无限制地添加补充液( )
337.铅箔增感屏的表面划伤在底片上会产生黑色条纹( )
338.铅箔增感屏的表面划伤在底片上会产生白色条纹( )
339.铅箔增感屏与胶片之间的异物(如头发、纸屑等)在底片上会产生白色痕迹( )
340.铅箔增感屏与胶片之间的异物(如头发、纸屑等)在底片上会产生黑色痕迹( )
341.胶片置于铅屏间过久会产生灰雾( )
342.金属荧光增感屏的构造是表面为透明的薄保护层,然后是荧光物质,再下面是金属箔,再下面是支撑物( )
343.金属荧光增感屏的构造是表面为透明的薄保护层,然后是金属箔,再下面是荧光物质,再下面是支撑物( )
344.金属荧光增感屏的构造是以荧光物质覆盖在金属箔之上( )
345.金属荧光增感屏的构造是以金属箔覆盖在荧光物质之上( )
346.荧光增感屏的荧光物质粒度越粗,所发荧光强度越高,增感系数越大,影像质量越差( )
347.荧光增感屏较脆,不宜用于曲率过大的工件,以防在使用中折裂而在底片上产生假象( )
348.荧光增感屏的屏面应经常用酒精擦拭以保持屏面清洁( )
349.荧光增感屏的屏面应经常用丙酮擦拭以保持屏面清洁( )
350.荧光增感屏的屏面的清洁应绸布或脱脂棉等柔软物质沾肥皂水轻轻擦拭以保持屏面光亮( )
351.荧光增感屏应避光保存和远离化学试剂,应避免直接受一次射线照射( )
352.在X射线照相中使用滤波板可以提高底片的清晰度和宽容度,而在γ射线照相中使用滤波板则无意义( )
353.在X射线照相中使用滤波板可以提高底片的清晰度和宽容度,在γ射线照相中使用滤波板也有同样的效果( )
354.胶片的暗室处理中,若显影不足,将会降低胶片的感光度和衬度( )
355.胶片的暗室处理中,若显影过度,将会产生灰雾而降低胶片的衬度( )
356.显影时间加长,会增大胶片的粒度( )
357.管电压越高,透照出来的底片粒度也越大( )
358.胶片速度越快,胶片粒度越大( )
359.胶片的粒度大小直接影响影像的清晰度以及对底片的评判解释( )
360.胶片的粒度大小与底片评判的信噪比无关( )
361.胶片的粒度大小直接影响底片评判的信噪比( )
362.胶片显影后进入定影液前先在3%冰醋酸水溶液中浸泡30秒钟的好处是避免胶片上的显影液带入定影液造成定影液过快失效,而且可以消除一些胶片上形成的灰雾( )
363.定影时间约为通透时间的2倍( )
364.定影时间就是通透时间( )
365.胶片定影后即可在可见光下进行水洗( )
366.整个胶片的处理过程度必须在暗室中进行,直至烘干程序时才能见光( )
367.胶片定影后水洗的目的是除去残留在乳剂内被溶解了的银化合物( )
368.底片上硫代硫酸钠的残留量大小影响底片的保存时间长短( )
369.检测底片上硫代硫酸盐的残留量大小以判定底片保存性能的方法是硝酸银点试法( )
370.检测底片上硫代硫酸盐的残留量大小以判定底片保存性能的方法是溴化银点试法( )
371.胶片定影后的水洗用水最好用硬质水,而配制显、定影液则最好用软水( )
372.胶片定影后的水洗用水最好用软质水,而配制显、定影液则最好用硬水( )
373.底片黑度正常而衬度不够的原因可能是射线太硬( )
374.底片黑度正常而衬度不够的原因可能是曝光过度而通过缩短显影时间来补偿( )
375.底片黑度正常而衬度不够的原因可能是显影液不合适或配制错误( )
376.底片黑度正常而衬度不够的原因可能是显影液温度过低而长时间显影( )
377.底片黑度偏低而且衬度不够的原因可能是显影不足( )
378.底片黑度偏低而且衬度不够的原因可能是显影液陈旧失效( )
379.底片黑度偏低而且衬度不够的原因可能是显影液不合适或配制错误( )
380.底片衬度过高的原因可能是显影液不合适或配制错误( )
381.底片衬度过高的原因可能是射线太软( )
382.底片衬度过高的原因可能是曝光不足而用延长显影时间来补偿( )
383.底片整体黑度不够的原因可能是曝光不足( )
384.底片整体黑度不够的原因可能是显影不足( )
385.底片整体黑度不够的原因可能是显影液失效( )
386.底片整体黑度不够的原因可能是显影液不合适或配制错误( )
387.底片整体黑度过高的原因可能是曝光过度( )
388.底片整体黑度过高的原因可能是显影过度或显影液温度过高( )
389.底片整体黑度过高的原因可能是显影液不合适或配制错误( )
390.底片清晰度差的可能原因是焦距太短( )
391.底片清晰度差的可能原因是曝光过程中射源或试件移动了( )
392.底片清晰度差的可能原因是胶片到试件的距离太远( )
393.底片清晰度差的可能原因是焦点尺寸过大( )
394.底片清晰度差的可能原因是胶片与增感屏接触不良( )
395.底片清晰度差的可能原因是胶片受散射辐射过多( )
396.底片清晰度差的可能原因是使用大晶粒的荧光增感屏( )
397.底片上局部或全部有灰雾的可能原因是暗室安全灯光太亮或颜色不合适( )
398.底片上局部或全部有灰雾的可能原因是胶片曾被射线或可见光偶然短暂曝光( )
399.底片上局部或全部有灰雾的可能原因是散射辐射太严重( )
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400.底片上局部或全部有灰雾的可能原因是胶片过期或保管储存不当( )
401.底片上局部或全部有灰雾的可能原因是曝光不足而用过度显影补偿( )
402.底片上局部或全部有灰雾的可能原因是显影液失效或配制错误( )
403.最小可见对比度△Dmin随线状图像的宽度减小而增大,当线状图像的宽度达到一定数值时,△Dmin成为常数( )
404.高速电子与靶原子的轨道电子相撞发出X射线,这一过程称作韧致辐射。( )
405.一能量为300KeV的光子与原子相互作用,使一轨道电子脱离轨道,且具有50KeV动能飞出,则新光子的能量是250KeV( )
406.含氢元素的物质对中子射线具有较强的衰减作用。( )
407.照射量只反映X或γ射线对空气中的电离本领,而吸收剂量可反映不同性质的物质吸收辐射能量的程度。( )
408.从X射线或γ射线防护角度上讲,可认为在数值上1伦琴相当于1拉德,相当于1雷姆。( )
409.照射量单位“库仑/千克”只适用于Χ射线或γ射线。不能用于其它射线。( )
410.当X或γ射线源移去以后工件不再受辐射作用,但工件本身仍残留极低的辐射。( )
411.被照体离焦点越近,Ug值越小( )
412.管电压一定,曝光量=管电流×曝光时间( )
413.管电压越高,波长越短,越容易穿透物质( )
414.对于相同物体,易于透过的X射线其线质软,硬X射线比软X射线的波长长,衰减系数大,半值层薄( )
415.X射线穿透相同厚度的物体时,衰减系数μ愈大,穿透率I/I0愈大,X射线的波长愈长μ愈小,穿透物质的原子序数愈大μ愈小,穿透物质的密度愈高μ愈小( )
416.管电流一定,提高管电压时,发生的连续X射线的线质变硬,无损检测资源网这时连续X射线强度同管电压的平方大致成正比( )
417.管电压一定,管电流加大时,发生的连续X射线的线质不变,这时连续X射线的强度同管电流成正比( )
418.将靶极金属改为原子序数较大的元素,而管电压和管电流都一定时,发生的X射线的线质变硬,在这里连续X射线的强度同原子序数成反比( )
419.将靶极金属改为原子序数较大的元素,而管电压和管电流都一定时,发生的X射线的线质变软,在这里连续X射线的强度同原子序数成反比( )
420.硬X射线比软X射线传播的速度快,所以硬X射线的能量更高( )
421.一种同位素(例如60Co),它辐射出的射线能量是一定的( )
422.光电效应是光子被完全吸收,而康普顿效应是光子没有被完全吸收( )
423.X射线管中,电子轰击靶时能量转换最多的是一次X射线( )
424.X射线管中,电子轰击靶时能量转换最多的是热量( )
425.若已知某一处的射线强度,根据“反平方律”可以求出另一距离处的射线强度( )
426.年轻人和老年人相比更容易受到射线的危害,所以未满16岁者不得参与放射工作( )
427.被照体离焦点越远,Ug值越小( )
428.Χ射线管的管电压是指阴极和阳极间所承受的峰值电压。( )
429.所谓“管电流”就是流过Χ射线管灯丝的电流。( )
430.金属陶瓷Χ射线管有抗震性强,管电流和焦点稳定性好,体积小的优点,但真空度不如玻璃Χ射线管。( )
431.不同类型的胶片,基本区别在于AgBr的颗粒不同。( )
432.射线照相的潜影形成是个电离过程,而显影过程则是还原过程。( )
433.所谓“潜影”就是在没有强光条件下不能看到的影像。( )
434.用来说明管电压、管电流和穿透厚度关系的曲线称为胶片特性曲线。( )
435.胶片灰雾度包括片基固有密度和化学灰雾密度两部分。( )
436.非增感型胶片反差系数随黑度的增加而增大,而增感型胶片反差系数随黑度的增加而减小。( )
437.在常用的100~400kVΧ射线范围内,铅箔增感屏的增感系数随其厚度增大而减小。( )
438.一般说来,胶片粒度大的衬度小,粒度小的衬度就大。( )
439.胶片的粒度越大,固有不清晰度也就越大。( )
440.定影液两个作用是:溶解未曝光的AgBr和坚膜作用。( )
441.使用透度计是为了要知道X射线和γ射线的穿透特性的好坏( )
442.使用透度计是为了要知道底片质量的好坏( )
443.使用透度计是为了要测量缺陷的位置和大小( )
444.用荧光增感屏进行X射线照相时,曝光时间可以显著缩短,但底片的像质较差( )
445.用铅箔增感屏进行X射线照像时,可以减少散射线的影响( )
446.铅箔增感屏比荧光增感屏增感作用小( )
447.根据X射线胶片特性曲线的斜率可以知道胶片的感光度特性( )
448.根据X射线胶片特性曲线的斜率可以知道胶片的对比度特性( )
449.根据X射线胶片特性曲线的斜率可以知道胶片的粒度特性( )
450.根据X射线胶片多重特性曲线的相对位置可以进行感光度的比较( )
451.根据X射线胶片多重特性曲线的相对位置可以进行对比度的比较( )
452.根据X射线胶片多重特性曲线的相对位置可以进行粒度性能的比较( )
453.高感光度的X光胶片比低感光度的胶片对比度低,银粒粗( )
454.高感光度的X光胶片比低感光度的胶片对比度高,银粒细( )
455.影响射线透照质量的是实际焦点( )
456.X射线管中,轰击靶的电子运动速度取决于阳极靶材料的原子序数( )
457.X射线管中,轰击靶的电子运动速度取决于阳极与阴极之间的电位差( )
458.X射线管实际焦点的位置是在阳极靶上( )
459.X射线管实际焦点的位置是在空间某点上( )
460.X射线管需要训练(老练硬化处理)的目的是提高真空度( )
461.X射线管需要训练(老练硬化处理)的目的是增加X射线发射能量( )
462.X射线管需要训练(老练硬化处理)的目的是缩短X射线波长( )
463.X射线管额定管电压为250KV,则该管的最高工作电压为250千伏峰值( )
464.X射线管额定管电压为250KV,则该管的最高工作电压为250千伏有效值( )
465.有效焦点为3x3mm,则其实际焦点是长方形( )
466.有效焦点为3x3mm,则其实际焦点是圆形( )
467.有效焦点为3x3mm,则其实际焦点是正方形( )
468.有效焦点为3x3mm,则其实际焦点是椭圆形( )
469.X、γ射线是光子流,因为它的波长短,因而不可见( )
470.X、γ射线的能量是不同的,其能量越高,传播速度就越快( )
471.放射性同位素γ射线的能量是一定的,例如钴60是1.25MeV,但经过几个半衰期后其能量要相应改变( )
472.当X射线通过三个半值层后,其能量仅剩下最初的四分之三( )
473.当X射线通过两个半值层后,其能量仅剩下最初的四分之一( )
474.X射线束的强度由轰击钨靶的电子数量决定( )
475.X射线的发生电源是交流电,因而产生的是连续谱( )
476.射线穿过试件时,其强度的减弱程度决定于试件的厚度和材质( )
477.铱192与钴60射源相比,具有较短的半衰期和较低的能量( )
478.X射线管中电子的速度越大,则发出的射线能量就越高( )
479.放射性同位素的衰减与衰变实质上是一回事( )
480.光电效应也叫光电吸收,因为发生光电效应后光子即消失了( )
481.当光子经过康普顿效应后,通常要产生二次射线( )
482.软X射线和硬X射线的传播速度相同,但软X射线的能量比硬X射线低( )
483.当X射线通过三个半值层后,其强度仅为初始值的三分之一( )
484.高速运动的电子同靶原子核的库仑场作用,电子失去的部分能量以光子的形式辐射出来,这种辐射称为韧致辐射,韧致辐射产生连续X射线( )
485.高速运动的电子同靶原子的轨道电子碰撞时,有可能将原子内层的一个电子击到未被电子填满的外层轨道上,其外层的电子向内层跃迁,以光子的形式辐射出多余的能量,这就产生了标识X射线( )
486.用于无损检测的X和γ射线,它们之间的主要区别在于:X射线是韧致辐射的产物,而γ射线是放射性同位素原子核衰变的产物;X射线是连续谱,γ射线是线状谱( )
487.康普顿散射系数虽然与入射光子的能量无关,但入射光子的能量增大时,散射光子的方向越接近入射光子的初始方向,对底片质量影响就越小( )
488.γ射线源经过两个半衰期后,它的射线能量降低到四分之一( )
489.打到靶上的电子数是决定X射线强度的因素之一( )
490.管电压越高,X光管中电子的速度就越大,辐射出的射线能量就越高( )
491.放射性同位素的衰变与射线的衰减实际上是一回事( )
492.半衰期是指放射性同位素的能量衰减一半所需要的时间( )
493.康普顿作用过程的特征是光子与电子碰撞时发生部分能量转移( )
494.将X光管的阳极靶材料由钼换成钨,其他条件不变,则产生的连续X射线的最短波长不变( )
495.将X光管的阳极靶材料由钼换成钨,其他条件不变,则产生的连续X射线的总强度不变( )
496.射线不受电磁场的影响( )
497.β射线和X射线在真空中的传播速度相同( )
498.α射线带正电,β射线带负电,γ射线不带电( )
499.铱192与钴60射源是由稳定的同位素在中子反应堆中俘获中子而获得的,无损检测资源网当射源经过几个半衰期后,将此射源置于中子反应堆中激活,仍可复原( )
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500.在射线防护中,照射量的单位是Sv( )
501.我国规定射线工作人员每年最高允许承受5x10-2Sv的照射剂量,也就是每周不超过1x10-3Sv( )
502.人体吸收剂量与距离平方成正比( )
503.高能射线机与普通X光机结构原理是一样的( )
504.中子流产生的生物效应比γ射线大( )
505.X射线和γ射线的生物效应基本一致( )
506.低能X射线造成皮肤红斑所需的照射量大于高能X射线( )
507.剂量仪给出的是吸收剂量率的值( )
508.X射线比可见光的频率高,因而X射线的传播速度比可见光快( )
509.X射线的强度由撞击阳极靶的电子数确定( )
510.X射线的能量由阴极发射的电子数确定( )
511.γ射线比普通X射线的波长更短,因此γ射线对物质的穿透能力一般比普通X射线强( )
512.某点射线的照射量与该点至射线源距离的平方成正比( )
513.采用较低的管电压透照工件时,可以获得较低的固有不清晰度( )
514.透照某一工件时,增大曝光量可以提高主因对比度( )
515.厚度逐渐变化的缺陷要比厚度突变的缺陷在底片上产生的影像清晰度差( )
516.厚度逐渐变化的缺陷要比厚度突变的缺陷在底片上产生的影像清晰度好( )
517.只要符合制作曝光曲线的工艺条件,任何X射线机都可以使用同一曝光曲线( )
518.一台X光机使用一段时间后,由于X光管会老化,因此应该经过一段使用时间后重新制作其曝光曲线( )
519.不同类型胶片的基本区别在于其溴化银颗粒的大小( )
520.波长相同的X射线和γ射线具有相同的物理性质( )
521.当γ射线通过三个半值层后,其能量为初始值的1/8( )
522.X射线的能量是由X射线管中的灯丝电流值决定的( )
523.X射线管的灯丝电流就是管电流( )
524.“韧致辐射”是指高速运动的电子与阳极靶相碰撞时,同靶材料的原子核外电场相互作用放出X射线( )
525.X射线管的标称管电压是管电压的平均值( )
526.射线检测应用的X射线和γ射线都属于电磁波( )
527.工业射线检测最常用的γ射线源是人工放射性同位素( )
528.X射线管中电子的动能在靶上大部分转换成热能,只有少部分转换成X射线能( )
529.当管电压一定,管电流增大时,产生的连续X射线的线质变硬、强度不变、波长变短( )
530.当管电压一定,管电流增大时,产生的连续X射线的线质变软、强度降低、波长变长( )
531.连续X射线的强度与管电流的大小成正比( )
532.连续X射线的强度与管电流的平方成正比( )
533.当管电流一定,管电压增大时,产生的连续X射线的线质变硬、穿透能力增加、波长变短( )
534.连续X射线的强度与靶材的原子序数平方成正比( )
535.当X射线的强度用可见光的照度来度量时,即是用单位时间内通过单位截面积的光子数来度量( )
536.光量子能量是其辐射频率或波长的函数,其数学表达式为:E=hv=hc/λ(式中:E-能量(eV);h-普朗克常数;λ-波长(cm);c-光速(3x1010cm/s);v-频率(Hz))( )
537.使穿透射线的强度衰减为入射线强度一半时的吸收体厚度称为半值层T1/2,其数学表达式为:T1/2=0.693/μ(式中:μ为材料衰减系数)( )
538.单色X射线束就是特征X射线束( )
539.单色X射线束就是单一波长的X射线束( )
540.若材质相同、放射强度相同的两个不同的γ射线源,放射性比活度大的其体积大( )
541.若材质相同、放射强度相同的两个不同的γ射线源,放射性比活度大的其体积小( )
542.根据互易定律,当管电压和焦距一定时,为了得到同样的照相效果,管电流毫安值与曝光时间(分钟)的乘积应该是一个常数( )
543.钴60放射源的剂量率在1米距离处、每居里、每小时的伦琴数为10R( )
544.钴60放射源的剂量率在1米距离处、每居里、每小时的伦琴数为1.35R( )
545.γ射线源的能量单位用兆电子伏特(MeV)表示( )
546.γ射线源的能量单位用伦琴(R)表示( )
547.X射线管有效焦点的大小直接影响穿透深度( )
548.X射线管有效焦点的大小直接影响影像清晰度( )
549.表示辐射源的浓缩程度的物理量称为放射性比活度,其表示单位为百万电子伏特(MeV)( )
550.表示辐射源的浓缩程度的物理量称为放射性比活度,其表示单位为百分比( )
551.某一放射性物质,其原子蜕变数在每秒为3.7x1010时,则其放射性强度为1R( )
552.某一放射性物质,其原子蜕变数在每秒为3.7x1010时,则其放射性强度为1rad( )
553.射线在材料中的衰减与在材料中的散射强度成反比( )
554.射线在材料中的衰减与射线源的距离平方成正比( )
555.射线在材料中的衰减随材料的厚度大致以指数规律变化( )
556.由于荧光物质具有直接吸收X射线而发出可见光的特点,从而达到增感的目的,这称之为互易效应( )
557.由于荧光物质具有直接吸收X射线而发出可见光的特点,从而达到增感的目的,这称之为叠加效应( )
558.荧光增感屏在射线停止激发后仍会继续发光,造成底片质量严重下降,称之为余辉现象( )
559.荧光增感屏在射线停止激发后仍会继续发光,造成底片质量严重下降,称之为磷光现象( )
560.根据黑度D的定义,其数学表达式为:D=lg(L•L0) 式中:L0-透过底片前的光强度;L-透过底片后的光强度( )
561.投射到胶片单位面积上的射线辐照量是单位时间的射线强度( )
562.投射到胶片单位面积上的射线辐照量与强度成反比,而与时间成正比( )
563.由于射线源的尺寸、射线源到被检件的距离、被检件到胶片距离等原因,在底片上显示缺陷的边缘轮廓可能发生缺乏完整的清晰度,这个由于几何原因引起的不清晰度称为像散效应( )
564.由于射线源的尺寸、射线源到被检件的距离、被检件到胶片距离等原因,在底片上显示缺陷的边缘轮廓可能发生缺乏完整的清晰度,这个由于几何原因引起的不清晰度称为半影( )
565.由于射线源的尺寸、射线源到被检件的距离、被检件到胶片距离等原因,在底片上显示缺陷的边缘轮廓可能发生缺乏完整的清晰度,这个由于几何原因引起的不清晰度称为图像失真度( )
566.单位重量的放射性同位素在在单位时间内的原子衰变数称为该放射性元素的放射性活度( )
567.对于β、γ、X射线,其剂量当量D中的线质系数Q值为1( )
568.对于α射线和快中子射线,其剂量当量D中的线质系数Q值为10( )
569.对于β、γ、X射线,其剂量当量D中的线质系数Q值为10( )
570.对于α射线和快中子射线,其剂量当量D中的线质系数Q值为1( )
571.放射性物质每秒发生3.7x1010次原子衰变时的放射性比活度就是1居里( )
572.1居里(Ci)相当于1克镭每秒的原子衰变数( )
573.1贝可(Bq)是指每秒钟有原子衰变一次的放射性活度( )
574.X射线是由高速行进的电子在真空管中撞击金属靶后产生的,其能量与强度均不可调( )
575.γ射线是由放射性物质内部原子核的衰变产生的,其能量、衰变几率均可调( )
576.全波整流Χ射线机所产生的射线平均能比半波整流Χ射线机所产生的射线平均能高。( )
577.单管半波整流电路里,Χ射线管只承受逆高压的1/2;双管半波整流电路里,Χ射线管只承受逆高压的1/3( )
578.自整流和半波整流的共同缺点是只有1/2时间用于产生Χ射线。( )
579.Χ射线机焦点应尽可能小一些,以防止靶过份受热。( )
580.所谓倍压电路(维拉特电路)是指高压变压器产生的峰值电压是电源峰值电压两倍的电路。( )
581.Χ射线机操作时高压升不上和高压跳闸属于同一类故障。( )
582.Χ射线管在使用过程中冷却不良会影响管电流的稳定性。( )
583.所有带整流管的整流电路,都是半波整流电路( )
584.在X射线机的射线透照场内,各点的焦点投影尺寸大小不同,越靠向阴极端越大,越靠近阳极端越小( )
585.单管半波整流电路里,X射线管只承受逆高压的1/2,双管半波整流电路里,X射线管只承受逆高压的1/3( )
586.制造低压X射线管窗口的材料一般是铍( )
587.制造低压X射线管窗口的材料一般是铅( )
588.X射线管阳极罩的作用是吸收二次电子( )
589.X射线管阳极罩的作用是发射X射线( )
590.X射线管阳极罩的作用是吸收热量( )
591.X射线管阳极罩的作用是防止二次射线( )
592.在半波自整流电路里加装逆电压降低器的目的是降低X射线管的逆电压( )
593.在半波自整流电路里加装逆电压降低器的目的是降低X射线管的正向电压( )
594.在倍压整流电路里起倍压作用的元件是电容器( )
595.在倍压整流电路里起倍压作用的元件是整流管( )
596.在倍压整流电路里起倍压作用的元件是X射线管( )
597.在倍压整流电路里起倍压作用的元件是高压变压器( )
598.在相同的管电压和管电流情况下,焦点尺寸越小,其焦点温度越高( )
599.在相同的管电压和管电流情况下,焦点尺寸越小,其焦点温度越低( )
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600.如果在暗室里使用了安全的红灯,底片上就不应有灰雾( )
601.显影液呈硷性,则停影液必须呈酸性,以使酸硷中和( )
602.定影液有两个作用,即溶解未曝光的溴化银和坚膜作用( )
603.当显影液槽不放盖时,显影液就可能被氧化,无损检测资源网这样就会降低显影液的浓度( )
604.与射线照相法相比,荧光屏观察法的优点是检测速度快、灵敏度高,缺点是不能把缺陷记录在胶片上。( )
605.显影时间延长,会使胶片特性曲线形状变陡,且在坐标上的位置左移。( )
606.胶片成象的颗粒性会随着射线能量的提高而变差。( )
607.铅增感屏除有增感作用外,还有减少散射线的作用,因此在射线能穿透的前提下,应尽量选用较厚的铅屏。( )
608.对Χ射线,增感系数随射线能量的增高而增大。但对γ射线来说则不是这样,例如,60Co的增感系数比192Ir小( )
609.通常认为对比度,清晰度,颗粒度是决定射线照相灵敏度的三个主要因素。( )
610.胶片对比度和主因对比度均与工件厚度变化引起的黑度差有关。( )
611.使用较低能量的射线可提高主因对比度,但同时会降低胶片对比度。( )
612.射线照相主因对比度与入射线的能谱有关,与强度无关。( )
613.可使用微粒胶片弥补因几何不清晰度而降低的射线照相灵敏度。( )
614.用增大射线源到胶片距离的方法可减小射线照相固有不清晰度。( )
615.利用阳极侧射线照相所得到的底片几何不清晰度比阴极侧小。( )
616.增大最小可见对比度△Dmin,有助于识别小缺陷。( )
617.光电效应和康普顿效应产生的散射线使射线照相清晰度和对比度降低。( )
618.像质计灵敏度1.5%,就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可被检出。( )
619.射线透照方向的选择,应尽可能使工件透照厚度减小。( )
620.如怀疑背散射线影响清晰度,可在工件与胶片之间放一铅字来验证背散射线的存在。( )
621.当射线管电压高到一定数值时,就会在胶片上产生静电花纹。( )
622.用单壁法透照环焊缝时,所有搭接标记均应放在射源侧工件表面,以免端部缺陷漏检。( )
623.厚工件中的紧闭裂纹,即使透照方向适当,也不能被检出。( )
624.对某一曝光曲线,应使用同一类型的胶片,但可更换不同的Χ射线机。( )
625.使用γ射线曝光曲线时,首先应知道射线源在给定时间的活度。( )
626.如果已知等效系数,用Χ射线曝光曲线来代替γ射线曝光曲线,也能求出曝光参数。( )
627.用γ射线透照厚度差较大的工件时,也可采用放置滤板的方法增大宽容度。( )
628.透照很薄的试件和轻合金时,能量的选择要比透照厚工件时严格得多。( )
629.增大透照厚度宽容度最常用的办法是适当提高射线能量。( )
630.用两张感光速度相同的胶片装在同一暗盒中透照工件,每张胶片黑度均为1.0,这两张胶片叠合一起时得到的衬度与单张胶片黑度为2.0时的衬度相同。( )
631.射线透过有加强高的焊缝后到达胶片上的散射比,总小于透过厚度与焊缝相同的平板后到达胶片上的散射比。( )
632.胶片曝光部分愈多,耗费的显影液也愈多。( )
633.如果显影时间过长,有些未曝光的AgBr也会被还原,从而增大了底片灰雾。( )
634.显影液中氢离子浓度增大,则显影速度减慢,故借助于硷使显影液保持一定pH值。( )
635.在定影液中氢离子浓度越高,定影能力越强。( )
636.对曝光不足的底片,应采用增加显影时间或提高显影温度的方法来增加底片黑度,从而获得符合要求的底片。( )
637.胶片在显影液中显影时,如果不进行任何搅动,则胶片上每一部位都会影响其下方部位显像。( )
638.所谓“通透时间”就是指胶片从放入定影液到所有AgBr完全溶解的这段时间。( )
639.减少底片上水斑的方法是快速干燥。( )
640.胶片表面起网状皱纹的原因可能是胶片处理时温度变化急剧。( )
641.冲洗胶片时,只要使用安全灯,胶片上就不会出现灰雾。( )
642.显影液中如果过量增加碳酸钠,在底片上会产生反差降低的不良后果。( )
643.使用被划伤的铅增感屏照相,底片上会出现与划伤相应的清晰的黑线。( )
644.一个射线工作者怀疑自己处于高辐射区域,验证的最有效方法是看剂量笔上的读数是否在增加。( )
645.在分别含有气孔,钨粒和夹渣的钢焊缝X射线底片上,比它们周围其他地方看起来较黑的是钨粒( )
646.在分别含有气孔,钨粒和夹渣的钢焊缝X射线底片上,比它们周围其他地方看起来较亮的是钨粒( )
647.在分别含有钨粒和夹渣的钢焊缝X射线底片上,比它们周围其他地方看起来较黑的是夹渣( )
648.在分别含有钨粒和夹渣的钢焊缝X射线底片上,比它们周围其他地方看起来较亮的是夹渣( )
649.在分别含有气孔和钨粒的钢焊缝X射线底片上,比它们周围其他地方看起来较黑的是气孔( )
650.在分别含有气孔和钨粒的钢焊缝X射线底片上,比它们周围其他地方看起来较亮的是气孔( )
651.如果胶片的γ值大时,底片上缺陷图像的对比度就高( )
652.如果胶片的γ值小时,底片上缺陷图像的对比度就高( )
653.散射线对穿透射线的比率小时,底片上缺陷图像的对比度较高( )
654.散射线对穿透射线的比率大时,底片上缺陷图像的对比度较高( )
655.要使底片的缺陷图像清晰,X射线管的焦点要小,被检物与焦点之间的距离要长,被检物与胶片的距离要短( )
656.要使底片的缺陷图像清晰,X射线管的焦点要大,被检物与焦点之间的距离要短,被检物与胶片的距离要远( )
657.为检查背散射,可以在装入底片的暗盒朝向投射射线的正面贴附一个"B"铅字,随同胶片一起曝光,观察该铅字在胶片上的影像来判断( )
658.为检查背散射,可以在装入底片的暗盒朝向投射射线的背面贴附一个"B"铅字,随同胶片一起曝光,观察该铅字在胶片上的影像来判断( )
659.在室外,野外进行放射工作时应注意划出安全区域和设置辐射危险标志,必要时还应设专人警戒( )
660.像质计灵敏度与缺陷探测灵敏度是一回事( )
661.像质计灵敏度不等于缺陷探测灵敏度( )
662.用像质指数表示的灵敏度称为像质计的绝对灵敏度( )
663.射线束在透照区端部斜向最大穿透厚度与该处实际厚度的比值称为透照厚度比K值( )
664.控制透照厚度比K值的主要目的是保证底片内的黑度在规定范围内变化( )
665.底片上缺陷的黑度大小不作为合格与否的依据( )
666.像质计是用来检查透照技术和胶片处理质量的( )
667.用像质计检查透照技术和胶片处理质量时,衡量该质量的数值是像质指数,对于金属丝型像质计,它等于底片上能识别出的最细金属丝的线编号( )
668.射线检验灵敏度包含了底片清晰度和对比度两个因素( )
669.选用低的管电压可以提高底片对比度,从而提高射线检验灵敏度( )
670.选用焦距越小越好( )
671.较高能量(波长短)的射线可在射线底片上得到较高的工件对比度( )
672.“胶片衬度”和“工件对比度”都与工件厚度变化引起的黑度差有关( )
673.通过同一工件相邻部位后的射线强度差别越大,则工件对比度越大( )
674.当射线穿过铅增感屏时,能发生光电效应和康普顿效应,这就是它起增感作用的原因( )
675.在管电压低于150千伏时,才使用铅增感屏( )
676.像质计(透度计)的主要用途是确定缺陷是否合格( )
677.某一材料的等效系数乘以它的实际厚度,就等效于标准材料厚度( )
678.在管电压低于100千伏时,金属增感屏几乎没有什么增感作用( )
679.从胶片放入定影液到胶片乳黄色消失的时间叫做通透时间( )
680.从胶片放入定影液到胶片乳黄色消失的时间叫做定影时间( )
681.在显影操作过程中,显影液的温度应控制在室温( )
682.在显影操作过程中,显影液的温度应控制在18±2℃( )
683.在显影操作过程中,显影液的温度应控制在20±2℃( )
684.在显影操作过程中,显影液的温度应控制在24±2℃( )
685.手工冲洗胶片时,如果没有停影液可供使用,则可以将胶片直接放入定影液( )
686.手工冲洗胶片时,如果没有停影液可供使用,则可以将胶片显影时间缩短一分钟后直接放入定影液( )
687.手工冲洗胶片时,如果没有停影液可供使用,则可以将胶片先在活水中至少冲洗2分钟,然后放入定影液( )
688.防止底片产生水斑的方法是将湿底片快速干燥( )
689.防止底片产生水斑的方法是先将湿底片在润湿液中浸一、两分钟( )
690.防止底片产生水斑的方法是使用新鲜的定影液( )
691.防止底片产生水斑的方法是延长水洗时间( )
692.|△D|≥|△Dmin|时,才能发现缺陷( )
693.未焊透和未熔合的主要区别是产生原因不同,因此缺陷的形状和产生部位也不同( )
694.在底片上观察透度计金属丝时,应先从粗丝端开始向细丝端方向观察( )
695.在焊缝上摆放线条型像质计时,粗线端应接近射线透照场边缘方向( )
696.铅增感屏的剥落部位,在底片上的黑度大( )
697.射线照像质量等级是根据射线源(能量),胶片和增感屏的不同组合来划分的( )
698.射线照像质量等级是根据底片的黑度、清晰度和对比度的不同来划分的( )
699.携带式X光机通常采用自整流式的半波整流,因而产生X射线的利用率比较低( )
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700.X光管阳极靶材料用钨的重要原因之一是其熔点高( )
701.γ射线源的储罐采用贫化铀材料主要是减轻重量( )
702.X光管加热电流的微小变化,就会引起阳极电流较大的变化( )
703.金属增感屏的金属箔是由铅、钢、铜、钽或钨等金属分别轧制而成的( )
704.金属增感屏的结构是金属箔及与其紧密胶粘在一起的衬纸组成的( )
705.金属增感屏(金属箔或衬纸)的表面应光滑清洁和平整,不应有肉眼可辨的孔洞、划痕、擦伤、皱纹、油污、氧化等( )
706.金属增感屏的表面质量可用肉眼在紫外光下进行检查( )
707.不锈钢的晶粒较粗大,在一定的射线透照条件下,射线底片上可能产生衍射斑纹( )
708.国产天津工业III型胶片与Agfa D7胶片性能相似,均为中速胶片( )
709.焊缝的焊冠越高,缺陷的检出就越困难( )
710.壁厚为16毫米的压力容器不适合采用钴60进行射线检验( )
711.如果焊缝的加强高较高或者厚度差较大,为使焊缝及其热影响区的黑度均在规定的范围内,可以适当降低射线能量( )
712.胶片的粒度是影响小缺陷可见性的唯一因素( )
713.一般情况下应尽量避免使用荧光增感屏,除非出于缩短曝光时间的需要,并且必须保证达到满足规范要求的底片质量,而且还应取得合约双方认可( )
714.当射源侧无法放置像质计时,也可将像质计放置在胶片侧,但应通过对比试验,使实际像质指数达到规定的要求( )
715.当采用像质计置放在胶片侧时,应在胶片上放置识别铅字母,例如“F”,以示该底片上像质计影像与放置在射源侧情况的区别( )
716.对于环焊缝,在条件许可的情况下,最适宜的做法是采用内照中心法进行透照( )
717.单层卷焊压力容器的环焊缝承受轴向应力,纵焊缝承受环向(切向)应力,在承压状态下,轴向应力大于环向应力,因此对环焊缝的验收标准应高于纵焊缝( )
718.为了保证焊接接头的强度,焊缝的加强高应尽量高一些( )
719.铅增感屏上的深度划伤在射线底片上呈黑色条痕( )
720.荧光增感屏上的深度划伤在射线底片上呈白色条痕( )
721.识别界限对比度的值越大,发现小缺陷的能力越强( )
722.为了获得高衬度和高清晰度的射线图像,在选择X射线机时,焦点的有效面积应尽可能小( )
723.当设计低压X射线管时,为了考虑到滤波、效率、散热等因素,X射线管的窗口一般采用铝合金制成( )
724.采用中子照相法时,其曝光方法是直接使用X射线胶片曝光
725.采用中子照相法时,其曝光方法是利用镉屏和钇屏受中子激发后再使用X射线胶片曝光( )
726.一般采用钴60照射钢材时,适用的检查厚度范围在200毫米以内或其当量厚度( )
727.一般采用钴60照射钢材时,适用的检查厚度范围在100毫米以内或其当量厚度( )
728.钴60的半衰期为5.3年,如该放射源已存放三年,则透照时的曝光时间应增加约37%( )
729.钴60的半衰期为5.3年,如该放射源已存放三年,则透照时的曝光时间应增加约49%( )
730.铱192的半衰期为75天,若目前检验工件的最佳曝光时间为20分钟,则经过150天后,在相同的摄影条件下要达到同样的黑度,曝光时间需要60分钟( )
731.假定管电压和曝光时间一定,在焦距500毫米和管电流5毫安的情况下可得到曝光适宜的底片,若把焦距增加到1000毫米,则应采用30毫安的管电流才能得到相同的曝光量( )
732.假定管电压和曝光时间一定,在焦距500毫米和管电流5毫安的情况下可得到曝光适宜的底片,若把焦距增加到1000毫米,则应采用50毫安的管电流才能得到相同的曝光量( )
733.已知铱192源的放射性强度为10居里,在焦距400毫米时可得到正确的曝光量,若其他条件不变,把焦距增加到800毫米,则要求更换放射性强度为20居里的新源( )
734.已知铱192源的放射性强度为10居里,在焦距400毫米时可得到正确的曝光量,若其他条件不变,把焦距增加到800毫米,则要求更换放射性强度为30居里的新源( )
735.对于管电压和管电流都不变的某一曝光量,当焦距从1200毫米减少到800毫米时,其曝光时间将从原来的10分钟缩短到7分钟( )
736.已知铱192源在距离1米时的曝光时间为60分钟,如果把曝光时间缩短为15分钟,则需要将距离缩短到0.5米( )
737.假设正确的曝光量为20毫安4分钟,如果管电流改为10毫安,则曝光时间就应该是2分钟( )
738.假设正确的曝光量为20毫安4分钟,如果管电流改为10毫安,则曝光时间就应该是4分钟( )
739.在胶片特性曲线上连接给定两点密度的直线的斜率称为平均梯度( )
740.根据胶片特性曲线上的斜率可以判别胶片的感光度( )
741.通过尽量提高X射线管的管电压,可以起到降低底片衬度的作用( )
742.通过尽量提高X射线管的管电流,可以起到降低底片衬度的作用( )
743.利用分辨率测定法可以测定X射线管的焦点( )
744.利用针孔成像测定法可以测定X射线管的焦点( )
745.在X射线机中,一般通过调节阴极负载电阻来控制X射线管的电流( )
746.在X射线机中,一般通过调节灯丝电流来控制X射线管的电流( )
747.用荧光增感屏进行X射线照相时,曝光时间可以显著缩短,但底片的像质较差( )
748.在管电压不太高时,用铅箔增感屏进行X射线照相时,主要的目的是为了减少散射线的影响( )
749.铅箔增感屏比荧光增感屏的增感作用大( )
750.只要不超出几何模糊度允许值,应使焦距尽可能短( )
751.若仅从高清晰度的需要出发,焦距应尽可能短( )
752.在X射线管窗口处加装滤光板可以增强二次辐射的X射线( )
753.在X射线管窗口处加装滤光板可以滤掉软辐射线,得到更均匀的X射线束( )
754.X射线管的管电压值影响X射线束的能量和强度( )
755.如果提高管电流,而管电压不变,射线束的穿透力没有变化( )
756.铅的密度是11.4,钢的密度是7.8,铅的密度约是钢的1.5倍,用220KV的X射线进行照相时,2.5mm厚的铅吸收相当于30mm厚钢的吸收,因此铅的吸收是钢的8倍( )
757.铅的密度是11.4,钢的密度是7.8,铅的密度约是钢的1.5倍,用220KV的X射线进行照相时,2.5mm厚的铅吸收相当于30mm厚钢的吸收,因此铅的吸收是钢的12倍( )
758.使用铅或铅化锑高原子序数增感屏的目的是为了减小散射线和缩短曝光时间( )
759.关于底片清晰度,它与物体至胶片的距离成正比,与焦点大小成反比( )
760.关于底片清晰度,它与焦点大小成正比,与射线源至物体的距离成反比( )
761.粒度大的X射线胶片其感光速度比粒度小的胶片快( )
762.粒度大的X射线胶片其照相的清晰度比粒度小的胶片好( )
763.强度一定的两种同位素源,若其放射性比活度值不同,则对放射性比活度值较高的源来说,其半衰期比放射性比活度值低的源短( )
764.强度一定的两种同位素源,若其放射性比活度值不同,则对放射性比活度值较高的源来说,其外形尺寸比放射性比活度值低的源小( )
765.强度一定的两种同位素源,若其放射性比活度值不同,则对放射性比活度值较高的源来说,其外形尺寸比放射性比活度值低的源大( )
766.提高荧光屏观察法(即时射线成像)无损检测资源网灵敏度的主要困难是结果无法再现和周期性地置换荧光屏难以实现( )
767.提高荧光屏观察法(即时射线成像)灵敏度的主要困难是受到亮度和荧光屏材料晶粒尺寸的限制( )
768.表达式:(毫安x时间)/距离平方,称之为胶片的梯度( )
769.在X射线管和胶片距离一半处放置一块用高密度材料制成并钻有小孔的板,这是用来测量中心射线的强度( )
770.在X射线管和胶片距离一半处放置一块用高密度材料制成并钻有小孔的板,这是用来过滤散射线的( )
771.在试样周围放置铅板的目的是防止照相时试样移位( )
772.在试样周围放置铅板的目的是增加被检测对象的对比度( )
773.每一台X射线机必须制作专用的曝光曲线,这是因为对于不同的仪器,即使高压和毫安值相同,而所产生的X射线束的强度和波长仍然有区别( )
774.X射线照相时使用的电压值越高,其衬度越高( )
775.胶片的增感因子在40-400KV之间的变化情况是不规则的( )
776.如果荧光增感屏的种类一定,则感光速度主要取决于荧光物质的颗粒度,颗粒越大,感光速度越快( )
777.在胶片背面放一个“B”铅字,曝光后冲洗出来的底片上出现该铅字的影像,说明对背散射的防护过度( )
778.工件内部如有一面积型缺陷,当该缺陷面与射线投照方向成45°夹角时,在底片上的影像最清晰( )
779.工件内部如有一面积型缺陷,当该缺陷面与射线投照方向成180°夹角时,在底片上的影像最清晰( )
780.把经显影后的胶片放入定影液中,胶片从原色变到略有透明的时间称为定影时间( )
781.220KV的X射线对钢和铜进行射线照相,两者的厚度当量系数为1:1.4,若以12mm的铜板进行射线照相时的曝光条件对钢进行射线照相,则该钢板的厚度应为6mm( )
782.当管电压超过400KV时,如果采用铅防护会发生其他有害因素,故应采用含钡水泥混凝土作防护材料( )
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